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              4200A-SCS-PK3參數分析儀半導體測試系統

              4200A-SCS-PK3參數分析儀半導體測試系統

              型號:4200A-SCS-PK3

              產品時間:2023-11-10

              簡要描述:

              4200A-SCS-PK3參數分析儀半導體測試系統是一種可以量身定制、全面集成 的參數分析儀,可以同步查看電流電壓(I-V)、電容電壓(C-V) 和超快速脈沖式I-V 特性。作為性能高的參數分析儀, 4200A-SCS 加快了半導體、材料和工藝開發速度。

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              詳細介紹

              4200A-SCS-PK3參數分析儀半導體測試系統主要性能指標

              I-V 源測量單元(SMU)

              • ± 210 V/100 mA 或 ± 210 V/1 A 模塊
              • 100 fA測量分辨率
              • 選配前端放大器提供了 10 aA測量分辨率
              • 10 mHz - 10 Hz 超低頻率電容測量
              • 四象限操作
              • 2 線或 4 線連接

              C-V 多頻率電容單元(CVU)

              • AC 阻抗測量 (C-V, C-f, C-t)
              • 1 kHz - 10 MHz 頻率范圍
              • ± 30 V (60 V差分)內置DC偏置源,可以擴展到± 210 V(420 V 差分)
              • 選配 CVIV 多通道開關,在 I-V 測量和 C-V 測量之間簡便切換脈沖式I-V 超快速脈沖測量單元(PMU)
              • 兩個獨立的或同步的高速脈沖 I-V 源和測量通道
              • 200 MSa/s,5 ns 采樣率
              • ±40 V (80 V p-p),±800 mA
              • 瞬態波形捕獲模式
              • 任意波形發生器 Segment ARB® 模式,支持多電平脈沖波形,10 ns 可編程分辨率

              2450 是 1 1A 200V 10fA/10nV 20 W - US $5,930

              2400 否 1 1A 200V 1pA / 100nV 20 W - US $5,990

              2460 是 1 7A 100V 1pA / 100nV 100 W - US $8,970

              2420 否 1 3A 60V 10pA / 100nV 60 W - US $9,440

              2410 否 1 1A 1100V 1pA / 100nV 20 W - US $9,820

              2461 是 1 10A 100V 1pA / 100nV 1000W - US $10,200

              2440 No 1 5A 40V 10pA / 100nV 50 W - US $11,200

              2601B 1 10A 40V 100fA / 100nV 200 W - US $8,310 US $4,510

              2611B 1 10A 200V 100fA / 100nV 200 W - US $8,310 US $5,930

              2604B 2 10A 40V 100fA / 100nV 200 W - US $10,500 US $5,990

              • 4200A-SCS-PK3參數分析儀半導體測試系統

               


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